5
當前位置：北京理加聯合科技有限公司>>高光譜成像測量>> PIKA SWIR 高光譜成像儀
Pika SWIR 是一款適用于短波紅外 (SWIR) 光譜范圍（1000 – 2500 nm）的高光譜成像儀，可實現廣泛應用于礦物勘探、藥物檢查、土壤表征和廢物回收等方面。Pika SWIR 可用于實驗室室內系統以及室外高光譜系統。
PIKA SWIR 高光譜成像儀特點
光譜范圍：1000-2500 nm
空間像素：640
光譜通道數：245
光譜分辨率(FWHM)：11 nm
PIKA SWIR 高光譜成像儀 技術指標
OPTICAL | |
光譜范圍 | 1000 - 2500 nm |
Bin 光譜通道數 | 245 |
空間通道數 | 640 |
光譜分辨率（FWHM） | 11.0 nm |
物鏡可視場角 | 22°, 33°, 62°, 77° |
孔徑 f/# | 1.8 |
像元尺寸 | 15 μm |
狹縫寬度 | 30 μm |
每像素光譜采樣 | 3.06 nm |
光譜儀放大倍率 | 1.08 |
| DATA | |
最大幀率 | 120 fps |
位深度 | 16 |
光譜 Bin：默認所有選項 | 2/2 - 10 |
空間 Bin：默認所有選項 | 1/1 - 10 |
像素縱深 | 1.85 Me - |
峰值信噪比 | 1.825 |
軟件開發工具包 | Not Currently |
| PHYSICAL / ENVIRONMENTAL | |
尺寸 | 338.7 x 116.8 x 113.7 mm |
重量（無鏡頭） | 3.98 kg |
物鏡接口 | C - mount |
數據接口 | USB 3.0 (via frame grabber) |
電源接口 | 12 V supply |
傳感器類型 | Cryogenically - Cooled MCT |
傳感器制冷 | Linear Stirling (MTTF >20k hrs) |
功耗 | 4.0 W |
操作溫度（非冷凝） | -20 to +50 °C |
建議溫度（非冷凝） | -50 to +70 °C |
